高分子材料の劣化診断方法及び表面抵抗測定方法

登録番号

特許第5495232号

登録日

2014年3月14日

共有者

株式会社明電舎

技術概要

【課題】高分子材料の劣化診断精度を向上する。【解決手段】高分子材料の表面抵抗を測定することにより高分子材料の劣化を診断する。測定温度を変化させた時の高分子材料の表面抵抗を測定し、測定温度とこの温度における表面抵抗の最小値（または、平均値）の関数を算出する。この関数としては、各温度における最少抵抗値を指数近似した直線が例示される。算出された関数において、高分子材料が劣化したと評価される表面抵抗値のしきい値を定める。このしきい値に対応する温度に基づいて、高分子材料の劣化診断をおこなう。

図

提供方法

特許の利用

詳細説明

なし