高分子材料の劣化診断方法

登録番号

特許第5550034号

登録日

2014年5月30日

共有者

株式会社明電舎

技術概要

【課題】高分子材料表面における電位分布の変化が起こる前の早期の段階で高分子材料の劣化を発見する。【解決手段】高分子材料表面の物理化学的変化量を定量することにより前記高分子材料の劣化を診断する。前記物理化学的変化量の定量としては前記高分子材料表面上の親水性化学種を分光分析による定量がある。前記分光分析としては赤外線分光分析またはラマン分光分析が挙げられる。前記親水性化学種としてはヒドロキシル基、水素還元されたフェニル基、カルボキシル基、硫酸イオンが例示される。前記物理化学変化量の定量として高分子材料表面の単位面積当たりの平均表面電位分布の測定が挙げられる。前記平均表面電位分布の測定としては原子間力顕微鏡像による測定法が挙げられる。

図

提供方法

特許の利用

詳細説明

なし